光纤冷热冲击试验箱专门针对光纤、光缆、光无源器件、光模块做快速高低温交替冲击可靠性测试的环境试验设备，用来模拟户外基站、通信线路遭遇的骤冷骤热，检验光路、封装结构耐受热胀冷缩的能力。

一、测试对象

光纤跳线、光纤连接器、光分路器、耦合器、WDM、光模块、光纤光缆、光纤阵列等光通信器件。失效检测目标：插损/回损变大、光功率漂移、封装胶体开裂、插芯位移、焊点微裂纹、光路偏移。

二、结构类型（光器件选型重点）

两箱式（吊篮移动）：高温室、低温室，样品吊篮上下/左右切换；价格低。缺点：样品移动带振动，不适合高精度光耦合器件，容易扰动光路耦合。

三箱式（风路切换，样品静止）：高温腔、低温腔、测试腔。冷热气流风门切换，样品全程不动。✅光纤/光模块，无机械振动干扰，测试结果真实，支持测试箱预留光纤通孔，可外接OTDR、光功率计在线实时监测光参数，满足GR-468、GR-1221认证测试。

三、核心常规参数

号：3AP-CJ-100A  

内容积：100L 

内箱尺寸：500*500*400 mm     (W* H *D)

外型尺寸(约)：1400*2000*1700mm   (W* H *D)具体以实际尺寸为准

测试室温度范围：-40℃～+150 ℃ 

低温冲击范围：-10℃～-40 ℃  （任意可调）

高温冲击范围：60℃～150 ℃   （任意可调）

预热温度范围：RT～+165℃

控制器：7英寸

压缩机：美国“艾默生Vilter"

温度范围：-70℃ ~ +150℃（行业主流）；常用测试区间：-40℃～+85℃

温度切换时间：≤10秒（标准要求）

控温波动：±0.5℃；温场均匀度≤±2℃

可编程循环：可设置冲击次数、高低温驻留时间，支持USB/电脑导出曲线数据

箱体预留测试孔：穿光纤、电源线，实现在线监测光性能变化

四、适用标准

国标：GB/T 2423.22、YD/T 1272光纤器件环境试验

国际：IEC 60068-2-19、GR-468-CORE（光模块）、GR-1221-CORE（无源光器件）

五、冷热冲击 vs 温度循环（很多客户容易混淆）

冷热冲击箱：几秒内快速切换高低温，巨大瞬时温差，用来激发材料界面热应力，筛查封装、焊点、胶体的潜在缺陷，属于可靠性应力筛选。

高低温循环试验箱：匀速升降温，缓慢变化，模拟环境渐变，多用于验证工作状态下光参数稳定性。

六、光纤冷热冲击试验箱选型要点（光纤行业重点）

光模块/无源器件优先三箱静止样品款，规避振动导致光路偏移，避免误判；

必须预留光纤出线孔，方便外接光测试仪器做在线插损监测；

配套定制工装托盘：理顺光纤走线，防止光纤弯折、受压；

确认程序存储、数据导出功能，满足报告、认证资料要求。